PERET-ピーレット-

PERET-ピーレット-

  • HOME
  • 製品紹介
    • PERETの特長(できること)
    • PERETの使い方
    • PERETの仕様
    • PERETの技術説明
  • 他の手法との違い
    • エネルギー方式(イオンミリング法など)との違い
    • ケミカル方式(電解研磨法など)との違い
    • 機械方式(手動ポリッシング)との違い
  • 分析事例
    • 斜め研磨
    • 浮彫研磨
  • 会社紹介
  • お問合せ
事例

事例

カメラ撮像素子(CCD)の内部分析事例

PERETの場合 マイクロレンズ、カラーフィルター、内部レンズ、センサーが2μmピッチで配列されてい …

浮彫研磨

セラミックコンデンサの内部分析事例

イオンミリングの場合 電極と誘導体(絶縁層)の界面が 観察できず、バフ研磨面においても電極と絶縁層が …

浮彫研磨

ICパッケージの封止樹脂

断面観察の場合 表面樹脂内のフィラー形状が繊維状なのか球状なのか判断できない。また、研磨による破損、移着か …

浮彫研磨

フィラー入り樹脂の内部構造分析事例

機械研磨の場合 樹脂がフィラーに移着し、詳細な分析が困難。また損傷も起きやすい。 PERETの場合 移着や …

浮彫研磨

IC半導体の内部分析事例

断面観察の場合 2次元情報で奥行きが見えず、半導体 やナノメートルオーダーの回路は判断しにくい。また断 …

斜め研磨

CFRP材の内部構造分析事例

機械研磨の場合 繊維と樹脂に損傷が発生する。 PERETの場合 樹脂の移着や界面での損傷が起こりにくい。 …

浮彫研磨

薄膜製造プロセスの異物分析事例

断面出しの場合 異物を残すのに高度な技術が必要とされ、実態もつかみづらい。 PERETの場合 マスキング …

斜め研磨

樹脂レンズ表面AR膜の分析事例

断面観察の場合 AR層の詳細分析をするにはx10,000が必要となる。 PERETの場合 各層の断面厚さを2 …

斜め研磨

アルミ表面アルマイト処理の分析事例

断面観察の場合 アルマイト内の空孔が少量しかみられず、封口処理の様子が観察できない(空孔が機械研磨の …

斜め研磨

自動車ボディ塗装の分析事例

断面観察の場合 カラー層に顔料、マイカ粒子が見られず、鋼板と電着塗装界面の化成処理改質層が不明確である …

斜め研磨

  • 1
  • 2
お問合せはこちら →
  • HOME
  • 会社紹介
  • お問合せ
  • 製品紹介
    • PERETの特長(できること)
    • PERETの使い方
    • PERETの仕様
    • PERETの技術説明
  • 他の手法との違い
    • エネルギー方式との違い
    • ケミカル方式との違い
    • 機械方式との違い
  • 分析事例
    • カメラ撮像素子(CCD)の内部分析事例
    • セラミックコンデンサの内部分析事例
    • ICパッケージの封止樹脂
    • フィラー入り樹脂の内部構造分析事例
    • IC半導体の内部分析事例
    • CFRP材の内部構造分析事例
    • 薄膜製造プロセスの異物分析事例
    • 樹脂レンズ表面AR膜の分析事例
    • アルミ表面アルマイト処理の分析事例
    • 自動車ボディ塗装の分析事例
    • 樹脂上金属メッキの界面分析事例
PERET-ピーレット-

〒940-2005 新潟県長岡市巻島1-20

TEL : 0258-86-0240

FAX : 0258-86-0241

※新規のお問合せは、問合せフォームからお願いいたします。

Copyright © Palmeso Co.,Ltd. All Rights Reserved.
PAGE TOP